发明名称 An abnormality detecting apparatus for detecting abnormarlity at interface portion of contact arm, An electronic device testing apparatus and An electronic device testing system with the same, and An abnormality detecting method
摘要 <p>이상검출장치(200)는 TIM(167)의 화상 데이터를 취득하는 촬상장치(210)와, 촬상장치(210)에 의해 취득된 TIM(167)의 화상 데이터로부터 TIM(167)의 외관불량(167a)을 검출하는 불량검출부(241)와, 불량검출부(241)에 의한 검출결과에 기초하여, TIM(167)에 이상이 발생되고 있는지의 여부를 판단하는 판단장치(260)를 구비하고 있다.</p>
申请公布号 KR101149334(B1) 申请公布日期 2012.06.01
申请号 KR20107007442 申请日期 2007.10.31
申请人 发明人
分类号 G01B11/24;G01R31/04;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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