发明名称 微波加热装置
摘要 在微波加热装置中,控制部(7)构成为,交替重复进行如下的动作,确定对被加热物进行加热的振荡频率和相位值:固定相位可变部的相位值,改变振荡部的振荡频率,并且由功率检测部检测反射功率,由此检测关于振荡频率的反射功率特性的扫描动作;和固定振荡部的振荡频率,改变相位可变部的相位值,并且由功率检测部检测反射功率,由此检测关于相位值的反射功率特性的扫描动作。
申请公布号 CN102484908A 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN201080039213.5 申请日期 2010.08.30
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 大森义治;信江等隆;安井健治;三原诚
分类号 H05B6/68(2006.01)I;H05B6/64(2006.01)I 主分类号 H05B6/68(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉;黄纶伟
主权项 一种微波加热装置,其具有:收纳被加热物的加热室;具有半导体元件而构成的振荡部;功率分配部,其将所述振荡部的输出分配为多个;相位可变部,其能够改变所述功率分配部的输出相位;多个放大部,其对所述相位可变部或所述功率分配部的输出进行功率放大;多个供电部,其将所述放大部的输出供给到所述加热室;多个功率检测部,其对从所述加热室经由所述供电部传播到所述放大部的反射功率进行检测;以及控制部,其对所述振荡部的振荡频率和所述相位可变部的输出相位进行控制,所述控制部具有:频率扫描部,其进行固定所述相位可变部的输出相位,改变所述振荡部的振荡频率,并且取得由所述功率检测部检测到的反射功率的频率检测动作,检测频率扫描特性;相位扫描部,其进行固定所述振荡部的振荡频率,改变所述相位可变部的相位值,并且取得由所述功率检测部检测到的反射功率的相位检测动作,检测相位扫描特性;以及扫描控制部,其控制为交替重复所述频率扫描部的频率检测动作和所述相位扫描部的相位检测动作,并根据检测到的所述频率扫描特性和所述相位扫描特性确定对所述被加热物进行加热的振荡频率和相位值。
地址 日本大阪府