| 发明名称 | 机床校准方法 | ||
| 摘要 | 本发明描述了一种为机床校准定义基准点的方法，所述机床包括相对于第二部分(4)移动的第一部分(8)。所述机床的所述第一部分(8)包括校准设备(19)，该校准设备包括至少第一校准物体(20；30)和第二校准物体(22；32)。所述机床的所述第二部分(4)包括测量探头(18)。所述方法包括步骤：利用所述测量探头(18)测量所述第一校准物体和所述第二校准物体每一个的表面上的多个点的位置。利用这些测量结果建立所述第一校准物体的位置和所述第二校准物体的位置。为所述校准设备(19)定义基准测量点(I)，所述基准测量点相对于所述第一和第二校准物体的建立位置具有固定位置。所述校准物体可以包括球体。 | ||
| 申请公布号 | CN102483621A | 申请公布日期 | 2012.05.30 |
| 申请号 | CN201080037654.1 | 申请日期 | 2010.08.18 |
| 申请人 | 瑞尼斯豪公司 | 发明人 | 戴维·约翰·罗杰斯;詹姆斯·亚瑟·哈特利 |
| 分类号 | G05B19/401(2006.01)I | 主分类号 | G05B19/401(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京明和龙知识产权代理有限公司 11281 | 代理人 | 郁玉成 |
| 主权项 | 一种在机床校准或检查校准时使用的方法，所述机床包括相对于第二部分移动的第一部分，所述机床的所述第一部分包括校准设备，所述校准设备包括至少第一校准物体和第二校准物体，所述机床的所述第二部分包括测量探头，所述方法包括步骤：(i)利用所述测量探头测量所述第一校准物体和所述第二校准物体每一个的表面上的多个点的位置；(ii)利用所述步骤(i)的测量结果建立所述第一校准物体的位置和所述第二校准物体的位置；和(iii)为所述校准设备定义基准测量点，所述基准测量点相对于所述步骤(ii)中建立的所述第一和第二校准物体的位置具有固定位置。 | ||
| 地址 | 英国格洛斯特郡 | ||