发明名称 |
X射线检查装置和方法 |
摘要 |
本发明涉及一种X射线检查装置和相应的方法。在每个探测时段内执行快速和定期的X射线通量的调节,在探测时段的开始时,使X射线通量低,以确保无探测通道过载。随着X射线通量的增加,探测到特别是外围的探测器通道将进入饱和。饱和的探测器通道被停止,不再进一步辐射探测,测量未饱和的辐射探测的有效时间,用于校正那些探测信号。对从已饱和的探测通道的探测信号进行任何校正之后,根据所有的探测信号重建X射线图像。 |
申请公布号 |
CN102469975A |
申请公布日期 |
2012.05.23 |
申请号 |
CN201080033602.7 |
申请日期 |
2010.07.20 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
R·普罗克绍 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I;G01T1/06(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
王英;刘炳胜 |
主权项 |
一种X射线检查装置,包括:‑X射线源(2),其用于在围绕成像区域(5)旋转的同时发射X射线辐射的X射线射束(4),‑X射线探测器(6),其具有多个探测器元(61),用于探测由所述X射线源(2)发射的并已通过所述成像区域(5)的X射线辐射并且用于输出探测信号,‑源控制单元(10),其用于在探测时段期间对X射线通量进行调制,在探测时段的开始时以避免所述X射线探测器(6)在直接X射线射束下饱和的X射线通量水平开始,并且之后增加所述X射线通量,‑探测控制单元(11),其用于评估所述探测信号,所述探测控制单元(11)包括:i)饱和探测单元(14a‑14n),其用于在探测时段期间探测在预定探测器元(61)和/或探测器元组处的饱和,ii)探测停止单元(15a‑15n),其用于在所述探测时段的剩余时间内停止在已饱和的探测器元(61)或探测器元组处对X射线辐射的探测,以及iii)时间测量单元(16a‑16n),其用于获得指示所述探测时段的有效时间部分的时间信息,在该有效时间部分期间,已在未饱和的情况下探测了X射线辐射,以及‑信号处理装置(12),其用于基于所述探测信号重建X射线图像,其中,利用所述时间信息对探测时段期间由于饱和而停止在其位置处对X射线辐射的探测的探测器元(61)和/或探测器元组的探测信号进行校正。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |