发明名称 |
一种测量干涉仪波长的装置及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测量工件台干涉仪波长的装置,包括:分别位于该工件台相对两侧的第一、第二干涉仪,该第一、第二干涉仪发出的第一、第二测量光束组成一波长测量轴,以及计算模块,用以计算该波长测量轴的理论长度、实际长度以及计算该第一、第二测量光束的实际波长,进而通过本发明之第一、第二干涉仪及计算模块实现对干涉仪测量光束的波长进行实时计算。本发明同时还公开了一种测量工件台干涉仪波长的方法。 |
申请公布号 |
CN102445279A |
申请公布日期 |
2012.05.09 |
申请号 |
CN201010507220.5 |
申请日期 |
2010.10.14 |
申请人 |
上海微电子装备有限公司 |
发明人 |
林彬;毛方林 |
分类号 |
G01J9/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01J9/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京连和连知识产权代理有限公司 11278 |
代理人 |
王光辉 |
主权项 |
一种测量工件台干涉仪波长的装置,包括:第一干涉仪及第二干涉仪,该第一、第二干涉仪分别位于该工件台的相对两侧,该第一干涉仪所发出的第一测量光束与该第二干涉仪所发出的第二测量光束组成一波长测量轴,该第一、第二干涉仪分别获得该第一、第二测量光束的第一光程及第二光程,该第一、第二干涉仪测量该第一、第二测量光束的光波相对于一测量周期初始时刻的周期变化数;以及计算模块,用以依据该第一、第二干涉仪获得的第一光程及第二光程计算该波长测量轴的理论长度,并依据该波长测量轴的理论长度、该工件台的运动参数计算该波长测量轴的实际长度,以及依据该波长测量轴的实际长度、该第一、第二测量光束的光波相对于该测量周期初始时刻的周期变化数,以及该测量周期初始时刻的该第一、第二测量光束的初始波长计算该第一、第二测量光束的实际波长。 |
地址 |
201203 上海市浦东区张江高科技园区张东路1525号 |