发明名称 高亮度发光二极管芯片的制造方法
摘要 本发明公开了一种高亮度发光二极管芯片的制造方法,包括:第一步,在衬底上制备半导体外延层,至少包括N型氮化物半导体层、有源层及P型氮化物半导体层;第二步,局部刻蚀,使部分N型氮化物半导体层露出,露出部分为N型环岛阻挡层、预留N电极蒸镀位置及预留阻挡层位置,并形成N型环岛阻挡层低于预留N电极蒸镀位置一定的高度差,该预留阻挡层位置位于P电极蒸镀位置且比P电极稍宽;第三步,在预留阻挡层位置沉积阻挡层;第四步,在P型氮化物半导体层上形成透明导电层;第五步,在N型和P型氮化物半导体层上分别蒸镀N电极和P电极;第六步,在芯片表面沉积保护膜。本发明能解决电流扩散问题及提升芯片的抗静电能力。
申请公布号 CN102104099B 申请公布日期 2012.05.09
申请号 CN200910201956.7 申请日期 2009.12.18
申请人 上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司 发明人 陈诚;郝茂盛;李士涛
分类号 H01L33/14(2010.01)I;H01L33/38(2010.01)I 主分类号 H01L33/14(2010.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王函
主权项 一种高亮度发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,在不导电的衬底上制备半导体外延层,至少包括N型氮化物半导体层、位于N型氮化物半导体层上的有源层、以及位于有源层上的P型氮化物半导体层;第二步,利用光刻及刻蚀技术进行局部刻蚀,使部分N型氮化物半导体层露出,露出部分为N型环岛阻挡层、预留N电极蒸镀位置及预留阻挡层位置,并形成N型环岛阻挡层低于预留N电极蒸镀位置一定的高度差,该预留阻挡层位置位于P电极蒸镀位置且比P电极稍宽;第三步,利用等离子体化学气相沉积技术在预留阻挡层位置沉积阻挡层;第四步,利用镀膜技术在P型氮化物半导体层上蒸镀一层透明导电层,并同时在露出部分N型氮化物半导体层上增加N电极引申线,所述N电极引申线为透明导电层N电极引申线,所述露出部分N型氮化物半导体层为预留N电极蒸镀位置;第五步,利用光刻及蒸镀技术在N型氮化物半导体层和P型氮化物半导体层上分别蒸镀N电极和P电极,并同时在露出部分N型氮化物半导体层上增加N电极引申线,所述N电极引申线为金属导电层N电极引申线,所述露出部分N型氮化物半导体层为预留N电极蒸镀位置;第六步,利用等离子体化学气相沉积技术在芯片表面沉积保护膜,仅露出N电极及P电极的焊点部分。
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号
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