发明名称 |
高亮度发光二极管芯片的制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种高亮度发光二极管芯片的制造方法,包括:第一步,在衬底上制备半导体外延层,至少包括N型氮化物半导体层、有源层及P型氮化物半导体层;第二步,局部刻蚀,使部分N型氮化物半导体层露出,露出部分为N型环岛阻挡层、预留N电极蒸镀位置及预留阻挡层位置,并形成N型环岛阻挡层低于预留N电极蒸镀位置一定的高度差,该预留阻挡层位置位于P电极蒸镀位置且比P电极稍宽;第三步,在预留阻挡层位置沉积阻挡层;第四步,在P型氮化物半导体层上形成透明导电层;第五步,在N型和P型氮化物半导体层上分别蒸镀N电极和P电极;第六步,在芯片表面沉积保护膜。本发明能解决电流扩散问题及提升芯片的抗静电能力。 |
申请公布号 |
CN102104099B |
申请公布日期 |
2012.05.09 |
申请号 |
CN200910201956.7 |
申请日期 |
2009.12.18 |
申请人 |
上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司 |
发明人 |
陈诚;郝茂盛;李士涛 |
分类号 |
H01L33/14(2010.01)I;H01L33/38(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/14(2010.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
王函 |
主权项 |
一种高亮度发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,在不导电的衬底上制备半导体外延层,至少包括N型氮化物半导体层、位于N型氮化物半导体层上的有源层、以及位于有源层上的P型氮化物半导体层;第二步,利用光刻及刻蚀技术进行局部刻蚀,使部分N型氮化物半导体层露出,露出部分为N型环岛阻挡层、预留N电极蒸镀位置及预留阻挡层位置,并形成N型环岛阻挡层低于预留N电极蒸镀位置一定的高度差,该预留阻挡层位置位于P电极蒸镀位置且比P电极稍宽;第三步,利用等离子体化学气相沉积技术在预留阻挡层位置沉积阻挡层;第四步,利用镀膜技术在P型氮化物半导体层上蒸镀一层透明导电层,并同时在露出部分N型氮化物半导体层上增加N电极引申线,所述N电极引申线为透明导电层N电极引申线,所述露出部分N型氮化物半导体层为预留N电极蒸镀位置;第五步,利用光刻及蒸镀技术在N型氮化物半导体层和P型氮化物半导体层上分别蒸镀N电极和P电极,并同时在露出部分N型氮化物半导体层上增加N电极引申线,所述N电极引申线为金属导电层N电极引申线,所述露出部分N型氮化物半导体层为预留N电极蒸镀位置;第六步,利用等离子体化学气相沉积技术在芯片表面沉积保护膜,仅露出N电极及P电极的焊点部分。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号 |