一种时域OCT测量的方法和时域OCT系统

摘要

本发明实施例公开了时域OCT测量的方法，包括：控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设在时域OCT系统中的样品进行测量；根据对样品的测量结果，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值；根据探测深度值测量得出被测物体的厚度值。相应地，本发明还公开了时域OCT系统。采用本发明，通过对预设在时域OCT系统中的样品进行自动的校准测量，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值，从而使探测深度值得到了校准，解决了现有技术中由于振镜系统工作的不稳定或工作时发热、环境温度的变化等使测量结果与实际结果产生偏差的问题，有效避免测量结果与实际结果产生的误差，提高时域OCT系统测量的准确度。

主权项

一种时域OCT测量的方法，其特征在于，包括：控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设在所述时域OCT系统中的样品进行测量；根据对所述样品的测量结果，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值；根据所述探测深度值测量得出被测物体的厚度值；所述控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设在所述时域OCT系统中的样品进行测量的步骤包括：接收对所述时域OCT系统的校准指令；根据所述校准指令，将所述时域OCT系统的样品臂的照射光路调整为校准光路，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品进行校准测量；将所述时域OCT系统的样品臂的照射光路调整为校准光路，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品进行校准测量的步骤包括：将OCT系统的样品臂振镜的角度调整为校准角度，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准角度对应的样品进行校准测量；或通过预设在所述时域OCT系统中的反射装置改变OCT系统的样品臂的照射光路，将所述照射光路调整为校准光路，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品进行校准测量。