发明名称 荧光X射线分析装置
摘要 试样封入容器(8)具有由透射X射线的材质构成的多个壁面,X射线源(1)配置成对壁面照射一次X射线,并且与被照射一次X射线的面不同的面与X射线检测器(10)对置,而且,来自X射线源(1)的一次X射线能够照射与X射线检测器(10)对置的试样封入容器的壁面。
申请公布号 CN101052870B 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN200580037929.0 申请日期 2005.10.26
申请人 精工电子纳米科技有限公司 发明人 的场吉毅;深井隆行;高桥正则;一宫丰
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 崔幼平
主权项 一种荧光X射线分析装置,由封入具有流动性的固体或液体试样的试样封入容器、对上述试样照射一次X射线的X射线源、以及检测从收到上述一次X射线后的试样产生的荧光X射线的检测器构成,根据上述检测出的荧光X射线的频谱来进行试样的元素分析,其特征是,上述试样封入容器具有由透射X射线的材质构成的多个壁面,配置成一次X射线照射到上述多个壁面中的一个壁面上,并且上述多个壁面中与被照射上述一次X射线的面不同的面与上述X射线检测器对置,而且,来自上述X射线源的一次X射线能够照射与上述X射线检测器对置的上述试样封入容器的壁面。
地址 日本千叶县