发明名称 | 荧光X射线分析装置 | ||
摘要 | 试样封入容器(8)具有由透射X射线的材质构成的多个壁面,X射线源(1)配置成对壁面照射一次X射线,并且与被照射一次X射线的面不同的面与X射线检测器(10)对置,而且,来自X射线源(1)的一次X射线能够照射与X射线检测器(10)对置的试样封入容器的壁面。 | ||
申请公布号 | CN101052870B | 申请公布日期 | 2012.04.18 |
申请号 | CN200580037929.0 | 申请日期 | 2005.10.26 |
申请人 | 精工电子纳米科技有限公司 | 发明人 | 的场吉毅;深井隆行;高桥正则;一宫丰 |
分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 崔幼平 |
主权项 | 一种荧光X射线分析装置,由封入具有流动性的固体或液体试样的试样封入容器、对上述试样照射一次X射线的X射线源、以及检测从收到上述一次X射线后的试样产生的荧光X射线的检测器构成,根据上述检测出的荧光X射线的频谱来进行试样的元素分析,其特征是,上述试样封入容器具有由透射X射线的材质构成的多个壁面,配置成一次X射线照射到上述多个壁面中的一个壁面上,并且上述多个壁面中与被照射上述一次X射线的面不同的面与上述X射线检测器对置,而且,来自上述X射线源的一次X射线能够照射与上述X射线检测器对置的上述试样封入容器的壁面。 | ||
地址 | 日本千叶县 |