| 发明名称 | 半导体芯片测试插座 | ||
| 摘要 | 半导体芯片测试插座，是对相应传统产品进行的一种改进。本实用新型包括探针（1），芯片插座主体（2），探针保持板（3）和芯片导向板（4），不同于现有技术的是：芯片插座主体（2）由原装于芯片导向板（4）上的加强板（5）与芯片插座基体（6）组装成一整体，从而增强了芯片插座主体（2）的强度，减少了芯片插座主体（2）的变形，使芯片的焊接球不易与芯片插座主体（2）接触，降低了芯片的焊接球的磨损程度，提高了半导体芯片测试的合格率。 | ||
| 申请公布号 | CN202182906U | 申请公布日期 | 2012.04.04 |
| 申请号 | CN201120205332.5 | 申请日期 | 2011.06.17 |
| 申请人 | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 | 发明人 | 蒋卫兵 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 苏州市新苏专利事务所有限公司 32221 | 代理人 | 孙莘隆 |
| 主权项 | 半导体芯片测试插座，包括探针（1），芯片插座基体（6），探针保持板（3）和芯片导向板（4），探针（1）安装在芯片插座基体（6）中 ，与探针保持板（3）固定连接，芯片插座基体（6）的另一面，装入弹簧并与芯片导向板（4）连接 ，其芯片导向板（4）上安装有加强板（5），其特征在于：将芯片导向板（4）上原有的加强板（5），移装至芯片插座基体（6）上，结合成一体，组成芯片插座主体（2），然后在其一面安装上探针（1），再与探针保持板（3）连接；芯片插座主体（2）的另一面，装入弹簧并与芯片导向板（4）连接。 | ||
| 地址 | 215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路255号 | ||