发明名称 |
导电银浆材料中银元素含量的测量方法 |
摘要 |
本发明提供了一种导电银浆材料中银元素含量的测量方法,包括以下步骤:A、称取一定量的银浆样品,记为m1;B、将称取的银浆样品放入烘箱中,在80℃条件下烘烤4~6个小时后取出,冷却后称重并记录;C、将步骤B中得到的银浆样品再次放入烘箱中,在温度条件为150~200℃条件下,烘烤1个小时后取出,冷却后称重并记录;D、将步骤C中得到的银浆样品再次放入烘箱中,在温度条件为350℃条件下,烘烤1个小时后取出,冷却后称重并记录;E、重复步骤D,直到样品称重不再变化为止,将银浆样品的最终重量记为m2;F、根据公式得到银浆中银元素的含量。本发明方法步骤简单,易操作,测量速度快,效率高,测量结果精确。 |
申请公布号 |
CN102393343A |
申请公布日期 |
2012.03.28 |
申请号 |
CN201110233626.3 |
申请日期 |
2011.08.16 |
申请人 |
上海华碧检测技术有限公司 |
发明人 |
冯银巧 |
分类号 |
G01N5/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N5/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种导电银浆材料中银元素含量的测量方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:A、用天平称取一定量的银浆样品,记为m1;B、将称取的银浆样品放入烘箱中,在80℃条件下烘烤4~6个小时,然后将银浆样品取出,冷却后用天平称重并记录;C、将步骤B中得到的银浆样品再次放入烘箱中,在温度条件为150~200℃条件下,烘烤1个小时,然后将银浆样品取出,冷却后用天平称重并记录;D、将步骤C中得到的银浆样品再次放入烘箱中,在温度条件为350℃条件下,烘烤1个小时,然后将银浆样品取出,冷却后用天平称重并记录;E、重复步骤D,直到样品称重不再变化为止,将银浆样品的最终重量记为m2;F、根据公式:银的含量=m2/m1*100%得到银浆中银元素的含量。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区国定东路300号3号楼105室 |