发明名称 用于测量含碳填料之填满状态的方法及装置
摘要 本装置包括一第一和一第二测温点(8a,10a), 其设于几乎相同之位置并构成一温度感测器(4)。第一冲刷装置利用与含碳之填料(6)发生放热反应之燃烧物(O2)来冲刷第一测温点(8a)。另设一装置,用于比较第一测温点(8a)之量测讯号(m1)与第二测温点(10a)之量测讯号(m2)。从中导出之温差(Tl-T2)表示填料(6)是否到达温度感测器(4)或仍位于其下方。
申请公布号 TW341660 申请公布日期 1998.10.01
申请号 TW086110316 申请日期 1997.07.21
申请人 西门斯股份有限公司 发明人 裘契姆玻瑞兹基
分类号 G01F23/22 主分类号 G01F23/22
代理机构 代理人 郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种用于测量含碳填料(6)之填满状态(H)的方法及装置,特别是经过热解之废弃物(P)之填料(6),其特征在于,在一第一和第二测温点(8a、10a)之间进行温度比较量测,其间两测温点(8a、10a)设于几乎相同之位置,而且第一测温点(8a)利用一种与含碳填料(6)进行放热反应之燃烧物(O2)来冲刷。2.如申请专利范围第1项之方法,其中第一测温点(8a)利用空气来冲刷。3.如申请专利范围第1或第2项之方法,其中第二测温点(10a)利用一种填料(6)不起作用之物质(N2)来冲刷。4.如申请专利范围第3项之方法,其中第二测温点(10a)利用氨来冲刷。5.如申请专利范围第1或第2项之方法,其中两测温点(8a、10a)之讯号(m1.m2)之差被形成,然后被显示及/或再处理。6.如申请专利范围第1或第2项之方法,其中温度比较量测被应用于调节填满状态(H)。7.如申请专利范围第6项之方法,其中由含碳物质所构成之填料(6)存在于一贮仓(24)中,其间物质进或出于容器(24)之此种进入及/或送出可被调节,而且使用温度比较测去以调整物料之进入及/或送出。8.如申请专利范围第7项之方法,其中在热的已热解之废弃物(P)的填料(6)中,从贮仓(24)之送出过程是利用一蜗杆(26)依据温度比较数量测法来进行。9.一种用于测量含碳填料(6)之填满状态(H)的装置,特别是已热解废弃物(P)和填料,其特征在于,设有一个第一和一个第二测温探头(8,10)此二个测温探头(8,10)设于几乎相同之位置;另设有一第一冲刷装置(11),以便使用一种与含碳填料(6)进行放热作用之燃烧物(O2)对第一测温探头(8)进行冲刷;并设一装置(15),用于比较第一测温探头(8)的量测讯号(m1)和第二测温探头(10)的量测讯号(m2)。10.如申请专利范围第9项之装置,其中设有热偶元件以作为测温探头(8,10)。11.如申请专利范围第10项之装置,其中至少第一热偶元件被设置于气体导管(12,14)中。12.如申请专利范围第10或11项之装置,其中热偶元件之尖端从气体导管(12,14)向外伸出一段(U,W)约3毫米。13.如申请专利范围第9,10或11项之装置,其中热偶元件(8,10)之尖端相互间之距离(X)约为10毫米。14.如申请专利范围第9,10或11项之装置,其中第一冲刷装置(11)含有一装置以用于加入氧气或空气。15.如申请专利范围第9,10或11项之装置,其中设有第二冲刷装置(13),以便使用与填料(6)不起作用之物料,特别是氮气(N2),来冲刷第二测温探头(10)。16.如申请专利范围第9,10或11项之装置,其中以其他同样形式之分离地设于填料(6)上之装置(4)来量测填满状态(H),装置(30)连接至装置(4)以用于设定或调整填料(6)之填满状态。17.如申请专利范围第16项之装置,其中设有用于设定或调整填状态(H)之装置(30),另包含从填料(6)加入及/或送出含碳物质的中间部份(24)。18.如申请专利范围第17项之装置,其中在由已经热解之废弃物所构成之填料(6)中,用于由填料(6)送出废弃物的中间部份(24)含有一电控蜗杆(25)。19.如申请专利范围第16项之装置,其中该装置及其他用于填满状态之量测之各装置(4)实际上重叠设置于外送贮仓(24)之墙(28)中以供已热解之废弃物(P)所用。20.如申请专利范围第17项之装置,其中该装置及其他用于填满状态之量测之各装置(4)实际上重叠设置于外送贮仓(24)之墙(28)中以供己热解之废弃物(P)所用。21.如申请专利范围第18项之装置,其中该装置及其他用于填满状态之量测之各装置(4)实际上重叠设置于外送贮仓(24)之墙(28)中以供已热解之废弃物(P)所用。图式简单说明:第一图为一种含碳填料物满位量测装置之主要构造。第二图为第一和第二测温探头,在被堆料物掩盖时,随时间进行之时,其输出讯号随时间而变化。第三图为依第二图之进行导出温度随时间之变化。第四图为一附有外送贮仓之焚化一燃烧一设施以及一种满位量测并在外送贮仓中调整满位之装置之剖面图。
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