发明名称 Apparatus for measuring timing margin of semiconductor circuit and apparatus for measuring on-chip characteristics comprising the same
摘要
申请公布号 KR100801054(B1) 申请公布日期 2008.02.04
申请号 KR20050094641 申请日期 2005.10.08
申请人 发明人
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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