发明名称 测量磁头噪声的方法及其系统
摘要 本发明公开了一种测量磁头噪声的方法,该方法包括:设置复数个阈值;施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件;施加外部时变横向磁场到所述磁头;放大所述读元件的输出信号以产生放大信号;过滤所述放大信号以产生过滤信号;对于每一所述阈值,在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号,所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值;测量每一所述使能信号的累计时长;根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图;及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数,并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。根据本发明的方法,与磁头不稳定性有关的噪声和其它固有噪声能够被分别测量和处理,从而精确地辨别磁头的真正瑕疵。相应地,本发明还揭露了测量磁头噪声的系统。
申请公布号 CN102347031A 申请公布日期 2012.02.08
申请号 CN201010240216.7 申请日期 2010.07.23
申请人 新科实业有限公司 发明人 陈华俊;郑子乐;陈胜强
分类号 G11B5/455(2006.01)I 主分类号 G11B5/455(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 郝传鑫
主权项 一种测量磁头噪声的方法,其特征在于,包括:设置复数个阈值;施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件;施加外部时变横向磁场到所述磁头;放大所述读元件的输出信号以产生放大信号;过滤所述放大信号以产生过滤信号;对于每一所述阈值,在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号,所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值;测量每一所述使能信号的累计时长;根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图;及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数,并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。
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