| 发明名称 | 一种衡量光相位调制信号质量的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种衡量光相位调制信号质量的方法及装置，该方法包括：定义星座图模板，并根据定义出的星座图模板衡量光相位调制信号质量是否符合要求。本发明通过定义出星座图模板，包括定义星座图模板的形状、大小、位置，以及模板测试通过的准则等，并利用星座图模板来衡量40G和100G光相位调制信号质量，与现有技术相比，可以有效地进行光相位调制信号质量的评估，而且更加准确便捷。 | ||
| 申请公布号 | CN102340345A | 申请公布日期 | 2012.02.01 |
| 申请号 | CN201010227641.2 | 申请日期 | 2010.07.14 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 华锋;易鸿;沈百林 |
| 分类号 | H04B10/08(2006.01)I;H04B10/12(2006.01)I;H04L27/18(2006.01)I | 主分类号 | H04B10/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 吴艳;龙洪 |
| 主权项 | 一种衡量光相位调制信号质量的方法，其特征在于，该方法包括：定义星座图模板，并根据定义出的所述星座图模板衡量光相位调制信号质量是否符合要求。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 | ||