发明名称 Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements und Halbleiterbauelement
摘要 Halbleiterbauelement und Verfahren. Eine Ausführungsform stellt folgendes bereit: ein Halbleitersubstrat (50) mit einem Graben (30) mit einer Seitenwandisolation (36), die ein erstes isolierendes Material umfasst, eine in einem unteren Teil (31) des Grabens (30) gebildete Feldelektrode (34), eine Abdeckung (37), die ein zweites Material umfasst, über der Feldelektrode (34), wobei das zweite Material selektiv zum ersten isolierenden Material ätzbar ist, ein Gatedielektrikum (38) auf der Seitenwand in einem oberen Teil (32) des Grabens (30) und eine Gateelektrode (35) in dem oberen Teil (32) des Grabens (30).
申请公布号 DE102009010174(B9) 申请公布日期 2012.01.19
申请号 DE200910010174 申请日期 2009.02.23
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 BLANK, OLIVER, DR.;HILLER, ULI;RIEGER, WALTER, DR.;ROESCH, MAXIMILIAN, DR.
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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