| 发明名称 | 一种电脑主机板失效分析方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种电脑主机板失效分析方法，其包括以下步骤：1)、对电脑主机板进行外观光学检查，判断其是否有污染；2)、对步骤1)中判断有污染的电脑主机板进行电性隔离测试，判断其是否有电性异常；3)、对步骤2)中判断有电性异常的电脑主机板进行SEM/EDS分析，判断其是否有导电性元素；4)、对步骤3)中判断有导电性元素的电脑主机板进行超声波清洗。本发明所述的电脑主机板失效分析方法，其通过对电脑主机板进行外观光学检查、电性隔离测试、SEM/EDS分析以及超声波清洗，可以有效、快速地检测出电脑主机板产生的失效现象。 | ||
| 申请公布号 | CN102313743A | 申请公布日期 | 2012.01.11 |
| 申请号 | CN201110077613.1 | 申请日期 | 2011.03.29 |
| 申请人 | 上海华碧检测技术有限公司 | 发明人 | 刘学森 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种电脑主机板失效分析方法，其特征在于：其包括以下步骤：1)、对电脑主机板进行外观光学检查，判断其是否有污染；2)、对步骤1)中判断有污染的电脑主机板进行电性隔离测试，判断其是否有电性异常；3)、对步骤2)中判断有电性异常的电脑主机板进行SEM/EDS分析，判断其是否有导电性元素；4)、对步骤3)中判断有导电性元素的电脑主机板进行超声波清洗。 | ||
| 地址 | 200090 上海市杨浦区国定东路300号3号楼 | ||