发明名称 |
半导体工件热处理方法和装置 |
摘要 |
本发明提供了一种装置和方法,用于在两个垂直布置的热处理室内迅速并双面地热处理半导体工件,其中每个室包含一第一热处理源和一第二热处理源,两室之间以一可伸缩门隔开。本发明采用的双面热处理机制提高了热处理的效率和均匀性,并且减少了热应力的不匹配所导致的半导体工件的变形。 |
申请公布号 |
CN101399161B |
申请公布日期 |
2012.01.11 |
申请号 |
CN200710046405.9 |
申请日期 |
2007.09.26 |
申请人 |
盛美半导体设备(上海)有限公司 |
发明人 |
马悦;何川;逄振旭;王晖;V·纳其 |
分类号 |
H01L21/00(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于半导体工件热处理的装置,其包括:垂直布置的加热室和冷却室;用于在加热室和冷却室之间传送半导体工件的传送装置;用于分隔加热室和冷却室的可伸缩门;其中当一加热过程或一冷却过程开始的时候,所述可伸缩门移入加热室和冷却室之间;并且可伸缩门包含一加热层和一冷却层。 |
地址 |
201600 上海市松江松蒸路900号210室 |