用于支持电子装置的测试的系统、温度控制单元及方法

摘要

公开了一种用于支持电子装置的测试的系统、温度控制单元及方法，所述温度控制单元用于所述用于支持电子装置的测试的系统。还公开了一种用于所述系统的腔的温度控制方法。当在低温或高温对电子装置进行测试时，将低温或高温空气供给到所述腔的内部。当在室温对电子装置进行测试时，外部空气被供给到所述腔的内部。

主权项

一种用于支持电子装置的测试的系统的温度控制单元，所述温度控制单元包括：风扇，用于将空气供给到腔的内部；风扇驱动装置，用于驱动风扇；风扇壳体，用于将风扇容纳于其中，所述风扇壳体具有用于从所述腔吸入空气的吸气孔以及用于将空气排放到所述腔的排放孔；外部空气流入控制装置，用于当所述风扇被驱动时允许外部空气流入所述风扇壳体或用于阻挡所述外部空气，其中，所述风扇壳体包括外部空气流入开口，外部空气通过该外部空气流入开口流入，所述外部空气流入控制装置包括：闸构件，用于打开或关闭外部空气流入开口；闸构件驱动装置，用于操作所述闸构件。