发明名称 静电图像显影剂
摘要 本发明提供一种静电图像显影剂,所述显影剂包含调色剂和载体,所述调色剂含有外部添加剂,所述载体包含芯材和形成于该芯材的表面上的树脂被覆层。所述调色剂的平均形状系数SF1为125~135,形状系数SF1小于125的调色剂颗粒的数目相对于调色剂颗粒的总数为5数目%~30数目%,形状系数SF1大于135的调色剂颗粒的数目相对于调色剂颗粒的总数为5数目%~30数目%,用于所述树脂被覆层中的树脂在刮擦强度测试中的刮痕线宽为80μm~200μm,并且刮痕深度为60μm~150μm。
申请公布号 CN101424894B 申请公布日期 2011.12.07
申请号 CN200810129794.6 申请日期 2008.08.18
申请人 富士施乐株式会社 发明人 清野英子;山田太一;鹤见洋介;松本晃;饭塚章洋
分类号 G03G9/10(2006.01)I;G03G9/08(2006.01)I;G03G21/18(2006.01)I;G03G15/01(2006.01)I 主分类号 G03G9/10(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 丁香兰;谢栒
主权项 一种静电图像显影剂,所述显影剂包含:调色剂,所述调色剂含有外部添加剂;和载体,所述载体包含芯材和形成于该芯材的表面上的树脂被覆层,所述调色剂的平均形状系数SF1为125~135,形状系数SF1小于125的调色剂颗粒的数目相对于调色剂颗粒的总数为5数目%~30数目%,形状系数SF1大于135的调色剂颗粒的数目相对于调色剂颗粒的总数为5数目%~30数目%,用于所述树脂被覆层中的树脂在刮擦强度测试中的刮痕线宽为80μm~200μm,并且刮痕深度为60μm~150μm,其中,将所述显影剂在温度为22℃和相对湿度为50%的环境中放置170小时后,所述调色剂的如下式(1)所示的表面电荷密度分布D为5dB以上:式(1):D[dB]=10×log(m2/σ2)式中,m表示所述调色剂的表面电荷密度的平均值,σ表示所述调色剂的表面电荷密度的标准偏差。
地址 日本东京