发明名称 不规则非均质物体的物理参数测量装置及测量方法
摘要 一种不规则非均质物体的物理参数测量装置及测量方法,包括一探头束,所述探头束包含有多根形状、尺寸和重量相同的细长探头;所述探头穿过一均匀分布有多排相互平行圆孔的支撑体后向外伸出,并在该圆孔中能自由升降,所述探头尾部设有用于与检测主机连接的数据传输线。本发明通过采用将可自由升降的探头组成探头束,将探头沿竖直方向同时接触被测物体表面,可一次完成大面积上多个接触点的测量,并可完全控制探头的初始条件,保证了测量过程的稳定性,大大提高了检测效率,该探头通用性强,可适合任何不规则非均质物体物理参数的测量与检测。
申请公布号 CN102261932A 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN201110098367.8 申请日期 2011.04.19
申请人 何宗彦 发明人 何宗彦
分类号 G01D21/02(2006.01)I;A61B5/01(2006.01)I;A61B5/05(2006.01)I;A61B5/053(2006.01)I 主分类号 G01D21/02(2006.01)I
代理机构 北京中建联合知识产权代理事务所 11004 代理人 朱丽岩;白云
主权项 一种不规则非均质物体的物理参数测量装置,其特征在于,其为一探头束,所述探头束包含有多根形状、尺寸和重量相同的细长探头;所述探头穿过一均匀分布有多排相互平行圆孔的支撑体后向外伸出,并在该圆孔中能自由升降,所述探头尾部设有用于与检测主机连接的数据传输线;所述探头均定位编号,便于规范数据信号采集和处理顺序以及图像还原。
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