发明名称 |
不规则非均质物体的物理参数测量装置及测量方法 |
摘要 |
一种不规则非均质物体的物理参数测量装置及测量方法,包括一探头束,所述探头束包含有多根形状、尺寸和重量相同的细长探头;所述探头穿过一均匀分布有多排相互平行圆孔的支撑体后向外伸出,并在该圆孔中能自由升降,所述探头尾部设有用于与检测主机连接的数据传输线。本发明通过采用将可自由升降的探头组成探头束,将探头沿竖直方向同时接触被测物体表面,可一次完成大面积上多个接触点的测量,并可完全控制探头的初始条件,保证了测量过程的稳定性,大大提高了检测效率,该探头通用性强,可适合任何不规则非均质物体物理参数的测量与检测。 |
申请公布号 |
CN102261932A |
申请公布日期 |
2011.11.30 |
申请号 |
CN201110098367.8 |
申请日期 |
2011.04.19 |
申请人 |
何宗彦 |
发明人 |
何宗彦 |
分类号 |
G01D21/02(2006.01)I;A61B5/01(2006.01)I;A61B5/05(2006.01)I;A61B5/053(2006.01)I |
主分类号 |
G01D21/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京中建联合知识产权代理事务所 11004 |
代理人 |
朱丽岩;白云 |
主权项 |
一种不规则非均质物体的物理参数测量装置,其特征在于,其为一探头束,所述探头束包含有多根形状、尺寸和重量相同的细长探头;所述探头穿过一均匀分布有多排相互平行圆孔的支撑体后向外伸出,并在该圆孔中能自由升降,所述探头尾部设有用于与检测主机连接的数据传输线;所述探头均定位编号,便于规范数据信号采集和处理顺序以及图像还原。 |
地址 |
100021 北京市朝阳区霄云路32号 |