发明名称 采用纳米粒子提高AlGaN基探测器性能的方法
摘要 采用纳米粒子提高AlGaN基探测器性能的方法,涉及半导体技术领域,它解决了现有制备AlGaN探测器的方法无法实现AlGaN基材料中存在高密度的位错的问题,本发明方法为:在常规衬底上生长AlGaN基材料;然后在所述的AlGaN基材料表面制备纳米粒子;采用光刻技术在纳米粒子上制备光刻胶掩膜图形;采用真空蒸发方法在光刻胶掩膜图形上制备金属电极;采用Lift Off技术溶解四所述的光刻胶,电极退火,获得高性能的AlGaN基探测器。本发明所述方法为提高AlGaN探测器效率提供了有效途径。本发明工艺简单,成本低廉。
申请公布号 CN102263166A 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN201110212296.X 申请日期 2011.07.27
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 黎大兵;孙晓娟;宋航;李志明;陈一仁;缪国庆;蒋红
分类号 H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 陶尊新
主权项 采用纳米粒子提高AlGaN基探测器性能的方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、在常规衬底上生长AlGaN基材料;步骤二、在步骤一所述的AlGaN基材料表面制备纳米粒子;步骤三、采用光刻技术在步骤二所述的纳米粒子上制备光刻胶掩膜图形;步骤四、采用真空蒸发方法在步骤三所述的光刻胶掩膜图形上制备金属电极;步骤五、采用Lift Off方法溶解步骤四所述的光刻胶,电极退火,获得高性能的AlGaN基探测器。
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号