发明名称 | X射线检查装置及方法 | ||
摘要 | 本发明涉及通过逆几何CT而实现谱X射线成像设备的检查装置和相应的方法。所提出的检查装置包括:X射线源单元(14),其包括用于在多个位置处发射X射线(24)的多个X射线源(15);X射线探测单元(18),其用于探测从一个或多个所述X射线源(15)发射的且穿透所述X射线源单元(14)和所述X射线探测单元(18)之间的检查区(19)之后的X射线,并且用于生成探测信号;处理单元(36),其用于处理所生成的探测信号;以及控制单元(26),其用于控制所述X射线源(15)来随后单独地或成组地以至少两个不同的能量谱发射X射线,使得在切换特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)从而以不同的能量谱发射X射线的时间间隔中,关闭所述特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g),并且,随后开启一个或多个其他X射线源(15b、15c)或其他成组的X射线源(15b、15e、15h;15c、15f、15i)以发射X射线。 | ||
申请公布号 | CN102256548A | 申请公布日期 | 2011.11.23 |
申请号 | CN200980150981.5 | 申请日期 | 2009.12.10 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | C·博伊默;G·福格特米尔 |
分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 王英;刘炳胜 |
主权项 | 一种X射线检查装置,其包括: X射线源单元(14),其包括用于在多个位置处发射X射线(24)的多个X射线源(15), X射线探测单元(18),其用于探测从一个或多个所述X射线源(15)发射的且穿透所述X射线源单元(14)和所述X射线探测单元(18)之间的检查区(19)之后的X射线,并且,用于生成探测信号, 处理单元(36),其用于处理所生成的探测信号,以及 控制单元(26),其用于控制所述X射线源(15)来随后单独地或成组地以至少两个不同的能量谱发射X射线,使得在切换特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)从而以不同的能量谱发射X射线的时间间隔中,关闭所述特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g),并且,随后开启一个或多个其他X射线源(15b、15c)或其他成组的X射线源(15b、15e、15h;15c、15f、15i)以发射X射线。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |