发明名称 一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法
摘要 一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法,其包括安装基准,支承定位机构,多个测量(点)机构,供电系统,数据采集分析系统及与所述供电系统和数据采集分析系统连接的测量传感器,所述测量安装基准上安置有多个具有确定位置关系的测量机构,每个所述测量机构上安装有位移测量传感器,通过多个测点与被测物体表面的相对位置关系而获得被测体的基本不平顺数据,并进而推算得出不同波长的被测体表面不平顺数据。本发明灵活方便,结构简单,可完全消除测量定位的系统误差,有效提高测量精度,可对被测物体表面不平顺进行测量,在物体表面平顺度的测量上具有重要应用价值,尤其在轨道不平顺检测上有广阔应用前景。
申请公布号 CN102221354A 申请公布日期 2011.10.19
申请号 CN201110082835.2 申请日期 2011.04.02
申请人 中南大学 发明人 吴湘华;曹宏宇;应立军;彭彪;孔德宇;吴志祥;吴铮;何恩腾;付艺超
分类号 G01B21/30(2006.01)I 主分类号 G01B21/30(2006.01)I
代理机构 长沙市融智专利事务所 43114 代理人 颜勇
主权项 一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法,其特征在于包括以下步骤:(1)定位:采用至少三个传感器线性或曲线排布靠近被测表面,采用定位装置使得排布后各传感器的相对位置关系以及传感器与被测物体表面的距离确定;(2)采集数据:利用跟传感器连接的采集分析系统将每个传感器与被测表面的距离进行采集以及分析;(3)连续移动测量:将传感器在定位装置的控制下在被测表面移动,采集分析系统同步采集分析数据。
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