一种像素阵列的检测方法及检测装置

摘要

本发明公开一种像素阵列的检测方法及检测装置。所述检测方法先以不同的测试电压对一包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电，再根据不同测试电压下各像素单元的亮度值建立一亮度阈值对照表；在检测一待测像素区域时，对待测像素区域充电，根据其电压值及亮度值自所述亮度阈值对照表中选用适合的亮度阈值，再根据此亮度阈值检测所述待测像素区域的像素单元是否具有缺陷。因此，本发明可减少缺陷的误判，进而增加检测的准确性。

主权项

一种像素阵列的检测方法，其特征在于：所述像素阵列的检测方法包含下列步骤：S10：以不同测试电压对包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电；根据各像素单元的亮度值建立并存储一亮度阈值的对照表；以及S20：对待测像素区域充电，并根据待测像素区域的电压值及亮度值自对照表中选定对应的亮度阈值以检测所述待测像素区域。