对含ADC和DAC的模拟基带芯片自动测试的电路结构及方法

摘要

本发明涉及一种对含ADC和DAC的模拟基带芯片自动测试的电路结构，其中低压差分信号转换模块与模拟基带芯片的低压差分信号输入端和低压差分信号输出端连接，模拟基带芯片的数模转换器的输出端与模数转换器的输入端连接，低压差分信号转换模块与发送数据存储模块、接收数据存储模块和发送和停止控制模块连接，发送数据存储模块、接收数据存储模块通过误差计算模块、测试结果显示模块和外部显示装置连接。本发明还涉及基于该电路结构对含ADC和DAC的模拟基带芯片自动测试的方法。采用该种对含ADC和DAC的模拟基带芯片自动测试的电路结构及方法，降低了测试复杂程度，缩短了测试时间，提高了测试精度和可靠性，过程方便快捷，工作性能稳定、适用范围较为广泛。

主权项

一种实现对具有模数转换器和数模转换器的模拟基带芯片进行自动测试的电路结构，其特征在于，所述的电路结构中包括测试控制功能装置，所述的测试控制功能装置中包括发送数据存储模块、接收数据存储模块、低压差分信号转换模块、发送和停止控制模块、误差计算模块、测试结果显示模块，所述的低压差分信号转换模块与所述的模拟基带芯片的低压差分信号输入端和低压差分信号输出端均相连接，所述的模拟基带芯片的数模转换器的输出端与模数转换器的输入端相连接，且该低压差分信号转换模块与所述的发送数据存储模块、接收数据存储模块和发送和停止控制模块均相连接，所述的发送数据存储模块、接收数据存储模块均依次通过所述的误差计算模块、所述的测试结果显示模块和外部显示装置相连接。