发明名称 数字X射线成像系统的调制传递函数精确测量方法
摘要 本发明属于生物医学工程及计算机领域,涉及一种数字X射线成像系统的调制传递函数精确测量方法,包括:放置脂肪仿体,采集多幅图像,并计算系统整体噪声的噪声功率谱;放置用于覆盖探测器的铅板,采集多幅图像并计算系统的电子噪声功率谱;放置线对卡,采集多幅图像,将各个图像叠加平均,得到线对卡平均图像;通过线对卡平均图像获取强度剖面图,计算线对卡整数空间频率对应的MTF值;利用线性回归方法,计算噪声功率谱与调制传递函数相关系数η,得到成像系统空间频率范围下的MTF变化曲线。本发明能够实现数字X射线成像系统的调制传递函数的准确测量,为进一步全面评估放射成像系统性能提供有力条件。
申请公布号 CN102204828A 申请公布日期 2011.10.05
申请号 CN201110126080.1 申请日期 2011.05.13
申请人 天津大学 发明人 周仲兴;高峰;赵会娟;张力新
分类号 A61B6/00(2006.01)I;G01M99/00(2011.01)I 主分类号 A61B6/00(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 程毓英
主权项 数字X射线成像系统的调制传递函数精确测量方法,包括下列步骤:1)放置脂肪仿体,采集多幅图像;2)计算系统整体噪声的噪声功率谱;3)放置用于覆盖探测器的铅板,采集多幅图像;4)计算系统的电子噪声功率谱;5)放置线对卡,采集多幅图像,将各个图像叠加平均,得到线对卡平均图像;6)通过线对卡平均图像获取强度剖面图,计算线对卡整数空间频率对应的MTF值;7)根据线对卡整数空间频率对应的MTF值、系统整体噪声的噪声功率谱以及系统电子噪声功率谱,利用线性回归方法,计算噪声功率谱与调制传递函数相关系数η;8)根据获取的噪声功率谱与调制传递函数相关系数η、系统整体噪声的噪声功率谱以及系统电子噪声功率谱,获取成像系统空间频率范围下的MTF变化曲线。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号