发明名称 非易失性存储器及其制造方法
摘要 本发明公开了一种非易失性存储器,包括基底、多个掺杂区、第一栅极、导体层、第一接触窗插塞以及介电层。掺杂区配置于该基底中。第一栅极配置于相邻两掺杂区之间的基底上。导体层配置于第一栅极的上方。第一接触窗插塞配置于第一栅极与导体层之间。介电层配置于第一栅极与第一接触窗插塞之间。
申请公布号 CN101593753B 申请公布日期 2011.09.28
申请号 CN200810038357.3 申请日期 2008.05.30
申请人 和舰科技(苏州)有限公司 发明人 李秋德
分类号 H01L27/112(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I;H01L21/8246(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L27/112(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陈亮
主权项 一种非易失性存储器,包括:一基底;多个掺杂区,配置于该基底中;一第一栅极,配置于相邻两掺杂区之间的该基底上;一第二栅极,配置于相邻两掺杂区之间的该基底上,其中该第二栅极与该第一栅极为分隔配置;一导体层,配置于该第一栅极与该第二栅极的上方;一第一接触窗插塞,配置于该第一栅极与该导体层之间;一介电层,配置于该第一栅极与该第一接触窗插塞之间;一第二接触窗插塞,配置于该第二栅极与该导体层之间;以及一第一金属硅化物,配置于该第二栅极与该第二接触窗插塞之间。
地址 215025 江苏省苏州市苏州工业园区星华街333号