发明名称 | 磁场检测设备及其使用方法 | ||
摘要 | 公开了一种具有主轴的设备,包括:磁阻堆栈,该磁阻堆栈具有第一和第二相对表面,该磁阻堆栈包括自由层、分隔层、和参考层,其中分隔层位于自由层和参考层之间,自由层包括在第一平面中具有自由磁取向的磁性材料,分隔层包括非磁性材料,并且参考层包括在第二平面中具有固定磁取向的磁性材料,其中第二平面垂直于第一平面并平行于设备的主轴;围绕磁阻堆栈外表面至少一部分的绝缘层;围绕绝缘层至少一部分的屏蔽层;以及导电层,其中导电层提供磁阻堆栈与屏蔽层之间的电连接。 | ||
申请公布号 | CN102169728A | 申请公布日期 | 2011.08.31 |
申请号 | CN201110050869.3 | 申请日期 | 2011.02.25 |
申请人 | 希捷科技有限公司;阿拉巴马大学 | 发明人 | W·H·巴特勒;D·V·季米特洛夫 |
分类号 | G11C29/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 姬利永 |
主权项 | 一种具有主轴的设备,所述设备包括:磁阻堆栈,所述磁阻堆栈具有第一和第二相对表面,所述磁阻堆栈包括自由层、分隔层和参考层,其中所述分隔层位于所述第一和参考层之间,所述自由层包括在第一平面中具有自由磁取向的磁性材料;所述分隔层包括非磁性材料;以及所述参考层包括在第二平面中具有固定磁取向的磁性材料;其中所述第二平面垂直于所述第一平面并且平行于所述设备的主轴;绝缘层,围绕所述磁阻堆栈的外表面的至少一部分;屏蔽层,围绕所述绝缘层的至少一部分;以及导电层,其中所述导电层提供所述磁阻堆栈与所述屏蔽层之间的电连接。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |