发明名称 用于研磨机的独立测量装置
摘要 本发明涉及一种测量装置,用于在研磨操作过程中测量柱体、辊和类似元件,它装备有具有几何形状和尺寸特征(例如圆度、形状、直径等)和/或结构特征(例如存在裂纹和加工硬化、硬度测量等)和/或表面特征(例如粗糙度、表面张力状态等)的检测系统。几何形状特征的测量通过四个检测点来进行。
申请公布号 CN101233383B 申请公布日期 2011.08.24
申请号 CN200680027348.3 申请日期 2006.07.26
申请人 国际技术公司及国际技术公开有限公司 发明人 G·博塞利;G·G·M·巴韦斯特利;F·S·比安凯西;C·特雷维桑
分类号 G01B5/08(2006.01)I;G01B5/20(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I 主分类号 G01B5/08(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 范莉
主权项 一种用于测量柱体或辊(11)的几何参数的测量装置(50),该测量装置用于扁平产品的轧制并通过在用于研磨所述柱体或辊的研磨机器上的独立运动来操作,其中所述独立运动独立于所述研磨机器的研磨轮或其它部件的平移运动,其中,所述测量装置(50)装配在支撑或测量摇车(40)上,并且包括类夹钳结构(51),该类夹钳结构(51)装备有承载至少一个上部传感器(54)的一个上部臂(52)以及承载至少一个下部传感器(55)的下部臂(53),所述类夹钳结构(51)通过使所述上部臂(52)和所述下部臂(53)中的至少一个平移和/或旋转而被打开和关闭,以便在测量阶段与所述柱体或辊接触,并允许所述柱体或辊的装载和/或卸载,其特征在于:所述上部臂(52)承载沿支承件(56)布置的至少三个上部传感器(54),所述至少三个上部传感器(54)和所述至少一个下部传感器(55)相对于要处理的柱体或辊(11)的轴线沿径向定位在垂直的平面上,以便对于所有可处理的形状和尺寸都能够使至少三个上部传感器(54)和所述至少一个下部传感器(55)相对于所述柱体或辊的表面正交定位,从而实现在至少四个点同时进行测量而不会对所述研磨机器的部件产生任何干涉,并且至少一个上部传感器(54)和至少一个下部传感器(55)布置在彼此在直径上相对的相对位置上。
地址 意大利米兰
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