发明名称 显示器之背光模组及其检测方法
摘要
申请公布号 TWI346818 申请公布日期 2011.08.11
申请号 TW095128240 申请日期 2006.08.02
申请人 瀚宇彩晶股份有限公司 发明人 陈伯群;高宏成;赖信杰;姜日炘
分类号 G02F1/13357;G02F1/1335 主分类号 G02F1/13357
代理机构 代理人 花瑞铭 高雄市前镇区中山二路7号14楼之1
主权项 一种背光模组,包含:一导光板;一光学膜片,配置于该导光板上;一第一反射罩,包含一第一上缘,其中该第一上缘与该光学膜片之间界定一第一间隙;一第一光源,容设于该第一反射罩与该导光板间;以及一框架,包含一第二上缘及至少一第一开口,其中该第二上缘系位于该第一反射罩及该光学膜片上,且该第一开口贯穿该第二上缘,以及至少一部份之该第一间隙显露于该第一开口中,且其中该第一开口系用以做为一视窗,以从中观测该第一反射罩之组装是否正确。依申请专利范围第1项之背光模组,其中当该第一开口之一部份显露出部分之该第一上缘时,则称该第一反射罩组装正确或称该第一反射罩之第一上缘之偏移量为合格。依申请专利范围第1项之背光模组,其中当该第一开口之全部显露出部分之该第一上缘时,则称该第一反射罩组装不良或称该第一反射罩之第一上缘之偏移量为不合格。依申请专利范围第1项之背光模组,其中当该第一开口未显露出任何之该第一上缘时,则称该第一反射罩组装正确或称该第一反射罩之第一上缘之偏移量为合格。依申请专利范围第1项之背光模组,其中当该第一开口之一部分或全部显露出部分之该第一上缘时,则称该第一反射罩组装不良或称该第一反射罩之第一上缘之偏移量为不合格。依申请专利范围第1项之背光模组,其中该第一开口系位于该第二上缘之中间处。依申请专利范围第1项之背光模组,其中该第一上缘系位于该导光板上。依申请专利范围第1项之背光模组,其中该光学膜片包含一扩散片。依申请专利范围第1项之背光模组,其中该光学膜片包含一棱镜片或增光片。依申请专利范围第1项之背光模组,其中该第一光源系选自冷阴极灯管、发光二极体(LED)、卤钨灯、电致发光(ELD)、阴极发射灯及金属卤化物灯中之一。依申请专利范围第1项之背光模组,更包含:一第二反射罩,其包含一第三上缘,其中该第三上缘与该光学膜片之间界定一第二间隙;一第二光源,容设于该第二反射罩与该导光板间;以及该框架更包含一第四上缘及至少一第二开口,其中该第四上缘系位于该第二反射罩及该光学膜片上,且该第二开口贯穿该第四上缘,以及至少一部份之该第二间隙显露于该第二开口中。依申请专利范围第11项之背光模组,其中该第二开口系做为一视窗,以从该第二开口观测该第二反射罩之组装是否正确。依申请专利范围第12项之背光模组,其中当该第二开口之一部份显露出部分之该第三上缘时,则称该第二反射罩组装正确或称该第二反射罩之第三上缘之偏移量为合格。依申请专利范围第12项之背光模组,其中当该第二开口之全部显露出部分之该第三上缘时,则称该第二反射罩组装不良或称该第二反射罩之第三上缘之偏移量为不合格。依申请专利范围第12项之背光模组,其中当该第二开口未显露出任何之该第三上缘时,则称该第二反射罩组装正确或称该第二反射罩之第三上缘之偏移量为合格。依申请专利范围第12项之背光模组,其中当该第二开口之一部分或全部显露出部分之该第三上缘时,则称该第二反射罩组装不良或称该第二反射罩之第三上缘之偏移量为不合格。依申请专利范围第11项之背光模组,其中该第三上缘系位于该导光板上。依申请专利范围第11项之背光模组,其中该第一反射罩系位于该导光板之一侧边,及该第二反射罩位于该导光板之另一侧边。依申请专利范围第1项之背光模组,其中该第一反射罩夹合该导光板。依申请专利范围第1项之背光模组,更包含:一背壳,与该框架相结合,用以将该导光板、该光学膜片、该第一反射罩及该第一光源容置于该背壳与该框架间。一种液晶显示装置,包含:一上框架;一液晶面板;以及一背光模组,包含:一导光板;一光学膜片,配置于该导光板上;一第一反射罩,包含一第一上缘,其中该第一上缘与该光学膜片之间界定一第一间隙;一第一光源,容设于该第一反射罩与该导光板间;以及一框架,包含一第二上缘及至少一第一开口,其中该第二上缘系位于该第一反射罩及该光学膜片上,该第一开口贯穿该第二上缘,且至少一部份之该第一间隙显露于该第一开口中,及该背光模组与该上框架彼此结合而将该液晶面板固设于其中以组合成该液晶显示器装置,且其中该第一开口系用以做为一视窗,以从中观测该第一反射罩之组装是否正确。依申请专利范围第21项之液晶显示装置,更包含:一第二反射罩,包含一第三上缘,其中该第三上缘与该光学膜片之间界定一第二间隙;一第二光源,容设于该第二反射罩与该导光板间;以及该框架更包含一第四上缘及至少一第二开口,其中该第四上缘系位于该第二反射罩及该光学膜片上,且该第二开口贯穿该第四上缘,以及至少一部份之该第二间隙显露于该第二开口中。一种用于背光模组之检测方法,包含下列步骤:提供一背光模组,其包含一光学膜片、一反射罩、一光源及一框架,其中该反射罩包含一第一上缘,该第一上缘系与该光学膜片之间界定一间隙,该光源系容设于该反射罩与该导光板间,及该框架包含一第二上缘及一第一开口,该第二上缘系位于该第一反射罩及该光学膜片上,且该第一开口贯穿该第二上缘;以及藉由该第一开口做为一视窗,检测该反射罩之第一上缘之装设偏移量或检测该反射罩之组装之良窳情形。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该第一开口之一部份显露出部分之该第一上缘时,则判定该反射罩之第一上缘之偏移量为合格或判定该反射罩组装正确。依申请专利范围第23项之检测方法,其中该第一开口之该部分之面积与该第一开口之全部之面积的比约为1:2。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该第一开口中出现两种颜色时,则判定该反射罩之第一上缘之偏移量为合格或判定该反射罩组装正确。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该背光模组点灯后,当观测到该第一开口之一部份显露出部分之该第一上缘而该第一开口之剩余部份透出光线时,则判定该反射罩之第一上缘之偏移量为合格或判定该反射罩组装正确。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该第一开口之全部显露出部分之该第一上缘时,则判定该反射罩之第一上缘之偏移量为不合格或判定该反射罩组装不良。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当观测到该第一开口中出现单一种颜色时,则判定该反射罩之第一上缘之偏移量为不合格或判定该反射罩组装不良。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该背光模组点灯后,由该第一开口无法观测到光线,则判定该反射罩组装不良。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该第一开口未显露出任何之该第一上缘时,则判定该反射罩组装正确。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该第一开口之一部份或全部显露出部分之该第一上缘时,则判定该反射罩组装不良。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当观测到该第一开口中出现单一种颜色且该单一种颜色非同于该第一上缘之颜色时,则判定该反射罩组装正确。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该第一开口中出现两种颜色时,则判定该反射罩组装不良。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该背光模组点灯后,该第一开口之全部,皆透出光线时,则判定该反射罩组装正确。依申请专利范围第23项之检测方法,其中当该背光模组点灯后,当观测到该第一开口之一部份显露出部分之该第一上缘而该第一开口之剩余部份透出光线时或当从该第一开口完全无法观测到光线时,则判定该反射罩组装不良。
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