摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Oberflächenprüfung eines Prüflings nach dem Prinzip der Deflektometrie, bei dem mindestens eine Beobachtungseinrichtung Reflektionsbilder einer Beleuchtungseinrichtung aufnimmt, die elektromagnetische Strahlung aussendet, bei der die Reflektionsbilder der Beleuchtungseinrichtung an der Oberfläche des Prüflings entstehen, und bei dem aus der Form der Reflektionsbilder eine Neigung der Oberfläche des Prüflings bestimmt wird. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass als Beleuchtungseinrichtung eine Beleuchtungsfläche mit einer oder mehrerer im Farbraum vorgebbaren Farbmodulationen und als Beobachtungseinrichtung mindestens eine Farbzeilenkamera verwendet wird, wobei mit der Farbzeilenkamera ein oder mehrere chromatisch codierte Bilddaten gleichzeitig und pixelgenau erfasst werden und aus der Farbinformation Informationen zur Oberflächenneigung und aus deren Intensität Informationen zur Oberflächentextur eines jeden Pixels abgeleitet werden. Die Erfindung betrifft weiterhin eine entsprechende Prüfvorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens, wobei die Beleuchtungseinrichtung als Beleuchtungsfläche mit einer oder mehrerer im Farbraum vorgebbaren Farbmodulationen ausgebildet ist und die Beobachtungseinrichtung mindestens eine Farbzeilenkamera aufweist, mit der ein oder mehrere chromatisch codierte Bilddaten gleichzeitig und pixelgenau erfassbar und innerhalb einer Auswerteeinheit aus der Farbinformation Informationen zur Oberflächenneigung und aus deren Intensität Informationen zur Oberflächentextur eines jeden Pixels ableitbar sind. Gegenüber den bisher üblichen Verfahren zu Deflektometrie bietet das Verfahren und die dazu korrespondierende Prüfvorrichtung besondere wirtschaftliche Vorteile. Mantelflächen von Rotationskörpern können mit einer gewöhnlichen Farbzeilenkamera in kurzer Zeit erfasst und hinsichtlich Oberflächendefekte ausgewertet werden.
|