发明名称 |
Temperierkammer zum Temperieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's |
摘要 |
Temperierkammer zum Temperieren von elektronischen Bauelementen, mit einem Gehäuse (14), in das die zu temperierenden Bauelemente (12) einführbar sind; und einer innerhalb des Gehäuses (14) angeordneten Haltevorrichtung zum Halten der Bauelemente (12), wobei die Haltevorrichtung eine Umlaufeinrichtung (15) mit einer Mehrzahl von kreisförmig umlaufenden Tragelementen (18) und zwei auf gegenüberliegenden Seiten der Tragelemente (18) angeordneten Stützeinrichtungen aufweist, die aus einem ersten und einem zweiten Drehkreuz (16, 17) bestehen, die um parallele, jedoch seitlich versetzte Drehachsen (21, 22) drehbar sind und Dreharme (30) aufweisen, wobei die Tragelemente (18) jeweils in ihren diagonal gegenüberliegenden Eckbereichen an den Dreharmen (30) derart drehbar gelagert sind, dass die Ausrichtung der Tragelemente (18) bei ihrem Umlauf gleich bleibt.
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申请公布号 |
DE102007047772(B4) |
申请公布日期 |
2011.07.21 |
申请号 |
DE200710047772 |
申请日期 |
2007.10.05 |
申请人 |
MULTITEST ELEKTRONISCHE SYSTEME GMBH |
发明人 |
PICHL, FRANZ;JESERER, GUENTHER;WIESBOECK, ANDREAS;BAUER, ALEXANDER;SCHAULE, MAXIMILIAN;FINKENWIRTH, BERND |
分类号 |
H01L21/683;H01L21/66;H01L21/673 |
主分类号 |
H01L21/683 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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