发明名称 |
一种测试多入多出设备的多通道辐射特性的装置及方法 |
摘要 |
本发明提供了一种测试多入多出设备的多通道辐射特性的装置及方法,该方法包括:建立测试通路,将被测终端接收机各通道电路接收的测试数据进行存储,采集测试数据完毕后对存储的各通道的测试数据进行分析得出所述被测终端的多通道特性。该装置包括信号发生器、被测终端、存储设备及信号分析设备;所述信号发生器,用于发射测试信号;所述被测终端,用于接收所述测试信号以及将各通道电路接收的测试数据存储至所述存储设备;所述信号分析设备,用于所述被测终端采用测试数据完毕后对存储的各通道电路接收的测试数据进行分析得出所述被测终端的多通道特性。采用本发明技术方案,可准确地分析出终端各通道的特性。 |
申请公布号 |
CN102122994A |
申请公布日期 |
2011.07.13 |
申请号 |
CN201010003864.0 |
申请日期 |
2010.01.08 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
黄旭;禹忠;彭宏利 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I;H04B7/04(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人 |
李健;龙洪 |
主权项 |
一种测试多入多出设备的多通道辐射特性的方法,包括:建立测试通路,将被测终端接收机各通道电路接收的测试数据进行存储,采集测试数据完毕后对存储的各通道的测试数据进行分析得出所述被测终端的多通道特性。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 |