发明名称 高光谱解析度之取像系统及其取像方法
摘要
申请公布号 TWI345053 申请公布日期 2011.07.11
申请号 TW096109046 申请日期 2007.03.16
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 纪智伟;刘定坤
分类号 G01N21/84 主分类号 G01N21/84
代理机构 代理人 冯博生 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种高光谱解析度之取像系统,包含:一光源模组,包含一第一红色发光装置、一第二红色发光装置、一第一绿光发光装置、一第二绿光发光装置、一第一蓝光发光装置和一第二蓝光发光装置;一控制器,控制该光源模组以产生一第一组合光束及一第二组合光束;以及一取像模组,撷取经一待测物反射之组合光束;其中该取像模组包括一影像感测器及一镜头;其中该影像感测器包括影像感测器包含一红光电荷耦合元件、一绿光电荷耦合元件以及蓝光电荷耦合元件;其中该光源模组之复数个发光装置系设置于一环状区域;其中该取像模组系设置于该环状区域之中;其中该第一组合光束包括一第一红色光发自第一红色发光装置,该第二组合光束包括一第二红色光发自第二红色发光装置,而该第一红色光与该第二红色光具有不同波长;其中该第一组合光束包括一第一绿色光发自第一绿色发光装置,该第二组合光束包括一第二绿色光发自第二绿色发光装置,而该第一绿色光与该第二绿色光具有不同波长;其中该第一组合光束包括一第一蓝色光发自第一蓝色发光装置,该第二组合光束包括一第二蓝色光发自第二蓝色发光装置,而该第一蓝色光与该第二蓝色光具有不同波长。根据请求项1所述之高光谱解析度之取像系统,其另包含一光束分离元件,反射该组合光束至该待测物,且容许经该待测物反射之组合光束通过。根据请求项1所述之高光谱解析度之取像系统,其中该光源模组包含复数个红光发光元件、复数个绿光发光元件以及复数个蓝光发光元件。根据请求项1所述之高光谱解析度之取像系统,其中该控制器控制该光源模组之一红光发光元件、一绿光发光元件以及一蓝光发光元件发光以产生该组合光束。根据请求项3所述之高光谱解析度之取像系统,其中该发光元件系一窄频发光元件。根据请求项5所述之高光谱解析度之取像系统,其中该窄频发光元件系发光二极体、雷射或金属灯。一种高光谱解析度之取像方法,包含下列步骤:形成一包含至少二种波长之光束的第一组合光束;撷取经一待测物反射后之第一组合光束的第一反射光束以取得一第一影像;形成一包含至少二种波长之光束的第二组合光束;撷取经该待测物反射后之第二组合光束的第二反射光束以取得一第二影像;以及根据该第一和第二反射光束的复数个强度决定一物体;其中该第一组合光束包含一第一红光,该第二组合光束包含一第二红光,且该第一红光之波长不同于该第二红光之波长;其中该第一组合光束包含一第一绿光,该第二组合光束包含一第二绿光,且该第一绿光之波长不同于该第二绿光之波长;其中该第一组合光束包含一第一蓝光,该第二组合光束包含一第二蓝光,且该第一蓝光之波长不同于该第二蓝光之波长。根据请求项7所述之高光谱解析度之取像方法,其中该第一组合光束之光谱不同于该第二组合光束之光谱。根据请求项7所述之高光谱解析度之取像方法,其中该第一组合光束包含至少二种不同波长之光束。根据请求项7所述之高光谱解析度之取像方法,其中该第一影像系利用一电荷耦合元件撷取。根据请求项7所述之高光谱解析度之取像方法,其中该第一组合光束系利用复数个窄频发光元件产生。根据请求项11所述之高光谱解析度之取像方法,其中该窄频发光元件系发光二极体、雷射或金属灯。
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号