| 发明名称 | 芯线检测设备和芯线检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供能够对多孔单模光纤进行芯线检测的芯线检测设备，其包括：通过多个突起部(23)对光纤(1)施加载荷(F)来形成光栅的光栅形成器具(20)、和检测光纤(1)所发生的漏光(λ1′)的受光器(30)，多个突起部(23)以0.24mm～0.75mm范围内的周期Λ进行配置。 | ||
| 申请公布号 | CN102119325A | 申请公布日期 | 2011.07.06 |
| 申请号 | CN200980131094.3 | 申请日期 | 2009.06.30 |
| 申请人 | 日本电信电话株式会社 | 发明人 | 松井隆;户毛邦弘;仓岛利雄;富田茂 |
| 分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人 | 余朦;熊传芳 |
| 主权项 | 芯线检测设备，其特征在于，包括：光栅形成装置，通过多个突起部对光纤施加载荷来形成光栅；以及受光装置，检测由所述光栅发生的漏光。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||