发明名称 |
一种半导体致冷组件的试验装置及其试验方法 |
摘要 |
本发明公开了一种半导体致冷组件的试验装置,其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器,水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内,试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制,并利用一电脑测试仪检测试验结果。本发明可靠性高、试验结果准确。 |
申请公布号 |
CN101387678B |
申请公布日期 |
2011.07.06 |
申请号 |
CN200810218705.5 |
申请日期 |
2008.10.28 |
申请人 |
海信科龙电器股份有限公司;海信容声(广东)冰箱有限公司 |
发明人 |
鲍德君 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
代理人 |
林丽明 |
主权项 |
一种半导体致冷组件的试验装置,其特征在于包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器,水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内,试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制,并利用一电脑测试仪检测试验结果。 |
地址 |
528303 广东省佛山市顺德区容桂街道容港路8号 |