发明名称 一种半导体致冷组件的试验装置及其试验方法
摘要 本发明公开了一种半导体致冷组件的试验装置,其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器,水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内,试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制,并利用一电脑测试仪检测试验结果。本发明可靠性高、试验结果准确。
申请公布号 CN101387678B 申请公布日期 2011.07.06
申请号 CN200810218705.5 申请日期 2008.10.28
申请人 海信科龙电器股份有限公司;海信容声(广东)冰箱有限公司 发明人 鲍德君
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人 林丽明
主权项 一种半导体致冷组件的试验装置,其特征在于包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器,水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内,试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制,并利用一电脑测试仪检测试验结果。
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