| 发明名称 | 一种SF<sub>6</sub>电气设备内部缺陷分析诊断方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种SF6电气设备内部缺陷分析诊断方法。目前，SF6电气设备广泛应用于电力系统领域，常规手段难以检出设备内局部缺陷。本发明采用SF6电气设备内部产生的分解产物H2S/SO2含量比值来判断SF6电气设备内部所处的缺陷状态，当H2S/SO2的比值为0时，SF6电气设备内部处于低温过热缺陷状态；当H2S/SO2的比值为0.02-0.14时，SF6电气设备内部处于中温过热缺陷状态；当H2S/SO2的比值为0.24-0.30时，SF6电气设备内部处于高温过热缺陷状态。本发明完全能达到排查SF6电气设备内局部绝缘隐患效果，可广泛应用于电力系统领域。 | ||
| 申请公布号 | CN102095832A | 申请公布日期 | 2011.06.15 |
| 申请号 | CN201010589092.3 | 申请日期 | 2010.12.15 |
| 申请人 | 浙江省电力试验研究院;浙江省电力试验研究院技术服务中心 | 发明人 | 蒋建玲;胡文堂;周国良;刘黎;李思南 |
| 分类号 | G01N33/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 浙江翔隆专利事务所 33206 | 代理人 | 张建青 |
| 主权项 | 一种SF6电气设备内部缺陷分析诊断方法，其特征在于：将SF6电气设备内部过热缺陷分为低温过热缺陷、中温过热缺陷和高温过热缺陷三种状态，所述的低温过热缺陷指温度在200℃及以下产生的缺陷，所述的中温过热缺陷指温度在250‑450℃时产生的缺陷，所述的高温过热缺陷指温度在550℃以上产生的缺陷，中、高温过热缺陷对于运行设备来说是重大危险源；采用SF6电气设备内部产生的分解产物H2S/SO2含量比值来判断SF6电气设备内部所处的缺陷状态，当H2S/SO2的比值为0时，SF6电气设备内部处于低温过热缺陷状态；当H2S/SO2的比值为0.02‑0.14时，SF6电气设备内部处于中温过热缺陷状态；当H2S/SO2的比值为0.24‑0.30时，SF6电气设备内部处于高温过热缺陷状态。 | ||
| 地址 | 310014 浙江省杭州市下城区朝晖八区华电弄1号 | ||