| 主权项 |
一种微电子装置，包含：核心积体电路；及周边扫描测试介面，与该核心积体电路共用预定数目的预选脚位，其至少包括一共用脚位在周边扫描测试模式或一般功能操作模式之间切换；其中，该周边扫描测试介面根据该共用脚位在周边扫描测试模式或一般功能操作模式而决定模式选择讯号，该周边扫描测试介面包含：测试存取埠控制器，用以根据该模式选择讯号以启动周边扫描测试模式，使测试讯号经由该共用预选脚位输入或输出；以及测试讯号路径选择器，用以根据该测试存取埠控制器之状态以决定该共用预选脚位为周边扫描测试模式或一般功能操作模式。如申请专利范围第1项之微电子装置，其中，该测试讯号路径选择器根据该测试存取埠控制器之状态与该模式选择讯号之逻辑运算结果，而决定该共用预选脚位为周边扫描测试模式或一般功能操作模式。如申请专利范围第2项之微电子装置，其中，该测试讯号路径选择器包含：逻辑闸，接收代表该测试存取埠控制器之状态的讯号与该模式选择讯号，并输出路径控制讯号；及多工器，根据该路径控制讯号，使该测试讯号经由该共用预选脚位输入或输出。如申请专利范围第3项之微电子装置，其中，该逻辑闸包括或闸以及反及闸之至少其中之一。一种微电子装置，包含：核心积体电路；及周边扫描测试介面，与该核心积体电路共用预定数目的预选脚位，其至少包括一共用脚位在周边扫描测试模式或一般功能操作模式之间切换；其中，该周边扫描测试介面根据该共用脚位在周边扫描测试模式或一般功能操作模式而决定模式选择讯号，该周边扫描测试介面包含：测试存取埠控制器，用以根据该模式选择讯号以启动周边扫描测试模式，使测试讯号经由该共用预选脚位输入或输出；其中，该预定数目的预选脚位中至少有一为双向输入/输出型脚位。如申请专利范围第5项之微电子装置，其中，该双向输入/输出型脚位可被设定为输入脚位或输出脚位。如申请专利范围第6项之微电子装置，其中，该双向输入/输出型脚位根据该测试存取埠控制器之状态而决定为输入脚位或输出脚位。如申请专利范围第7项之微电子装置，其中，该双向输入/输出型脚位根据该测试存取埠控制器之状态与该模式选择讯号之逻辑运算结果，而决定为输入脚位或输出脚位。一种微电子装置之脚位安排方法，包含：提供一具有复数脚位的微电子装置，此微电子装置具有周边扫描测试模式与一般功能操作模式；至少使其中一个脚位在周边扫描测试模式中，至少作为资料输入、资料输出、时脉输入以及系统重设输入之其中之一用途；使该脚位在一般功能操作模式中作为一般功能脚位；以及提供模式选择讯号，以使该脚位在周边扫描测试模式与一般功能操作模式之间切换。一种微电子装置之脚位安排方法，包含：提供一具有复数脚位的微电子装置，此微电子装置具有周边扫描测试模式与一般功能操作模式；至少使其中一个脚位在周边扫描测试模式中，至少作为资料输入、资料输出、时脉输入以及系统重设输入之其中之一用途；使该脚位在一般功能操作模式中作为一般功能脚位；在该微电子装置中提供一个测试存取埠控制器；以及根据该测试存取埠控制器之状态，使该脚位在周边扫描测试模式与功能操作模式之间切换。如申请专利范围第10项之脚位安排方法，其中该根据该测试存取埠控制器之状态，使该脚位在周边扫描测试模式与功能操作模式之间切换之步骤包含：根据该测试存取埠控制器之状态与该模式选择讯号间之逻辑运算结果，使该脚位在周边扫描测试模式与一般功能操作模式之间切换。 |
