摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé de correction d'un spectre mesuré de rayonnement X (Spmes) , comportant : - déterminer un spectre d'empilement (Emp), qui est la partie du spectre mesuré (Spmes) , qui correspond uniquement aux seuls empilements, - calculer le spectre corrigé (Spcor) , par différence entre le spectre mesuré (Spmes) et le spectre d'empilement (Emp).</p> |