发明名称 PROCEDE DE CORRECTION DU PHENOMENE D'EMPILEMENT APPLIQUE A DES SPECTRES DE RAYONNEMENT X ACQUIS A L'AIDE D'UN CAPTEUR SPECTROMETRIQUE
摘要 <p>L'invention concerne un procédé de correction d'un spectre mesuré de rayonnement X (Spmes) , comportant : - déterminer un spectre d'empilement (Emp), qui est la partie du spectre mesuré (Spmes) , qui correspond uniquement aux seuls empilements, - calculer le spectre corrigé (Spcor) , par différence entre le spectre mesuré (Spmes) et le spectre d'empilement (Emp).</p>
申请公布号 FR2953298(A1) 申请公布日期 2011.06.03
申请号 FR20090058522 申请日期 2009.11.30
申请人 COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE 发明人 RINKEL JEAN;BRAMBILLA ANDREA;DINTEN JEAN-MARC;MOUGEL FLORENT
分类号 G01T1/36 主分类号 G01T1/36
代理机构 代理人
主权项
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