发明名称 |
无源器件损耗分析装置 |
摘要 |
本发明公开了一种无源器件损耗分析装置包括:多波长光源,用于提供多种波长的稳定功率的激光;光开关,用于选择多种波长的激光中的一路输出;偏振控制器,用于改变激光的偏振态;具有第一端、第二端以及第三端的分路器;回损测试模块,用于测量待测无源器件输入端反射的光功率;光功率计模块,用于测量待测无源器件输出端的光功率;单片机,用于控制多波长光源的激光输出、光开关的激光选择、偏振控制器对激光偏振态的改变以及接收回损测试模块和光功率计模块测得的数据并对该数据进行处理。本发明的无源器件损耗分析装置是集稳定的DFB光源、光功率计模块、插回损测试仪、DPL测试仪为一体的多功能设备。 |
申请公布号 |
CN102075242A |
申请公布日期 |
2011.05.25 |
申请号 |
CN201010586841.7 |
申请日期 |
2010.12.14 |
申请人 |
上海光家仪器仪表有限公司;上海光维通信技术股份有限公司 |
发明人 |
汪亮;张国保;完绍平;刘彦阳;张丽丽;阮志光 |
分类号 |
H04B10/08(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04B10/08(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
胡美强 |
主权项 |
一种无源器件损耗分析装置,其特征在于,其包括:多波长光源,用于提供多种波长的稳定功率的激光;光开关,用于选择多种波长的激光中的一路输出;偏振控制器,用于改变激光的偏振态;具有第一端、第二端以及第三端的分路器;回损测试模块,用于测量待测无源器件输入端反射的光功率;光功率计模块,用于测量待测无源器件输出端的光功率;单片机,用于控制多波长光源的激光输出、光开关的激光选择、偏振控制器对激光偏振态的改变以及接收回损测试模块和光功率计模块测得的数据并对该数据进行处理,其中,该多波长光源的输出端连接至该光开关的输入端,该光开关的输出端连接至该偏振控制器的输入端,该偏振控制器输出端与该分路器的第一端相连,该分路器的第二端与回损测试模块的输入端相连,该分路器的第三端与待测无源器件的输入端相连,该光功率计模块的输入端与该待测无源器件的输出端相连,该单片机分别与该多波长光源、光开关、偏振控制器、分路器、回损测试模块以及光功率计模块相连。 |
地址 |
200233 上海市徐汇区田州路99号13号楼501室 |