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一种电容式触控面板半成品检测治具，其包括一底座、一上盖、一静电排除装置及一导通组，其中：底座之顶面内凹形成有一容置槽；上盖可对应盖设于该底座上，该上盖具有一框架与一绝缘层，该绝缘层固设在该框架之中，且可对应覆盖于该底座之容置槽上；静电排除装置进一步设于该上盖之绝缘层上；导通组设于该底座旁侧，并连接一微控制器。如申请专利范围第1项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其进一步包含一显示装置，该显示装置与该微控制器相接，可显示该微控制器的运算结果。如申请专利范围第1项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其进一步包含一平台，前述底座与导通组系固设在该平台上，前述上盖则系可转动地枢设在该平台上。如申请专利范围第2项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其进一步包含一平台，前述底座与导通组系固设在该平台上，前述上盖系可转动地枢设在该平台上，前述显示装置设在该平台上。如申请专利范围第3或4项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其中，前述导通组包含二轴杆、一升降板与二弹簧，该二轴杆间隔固设于该平台上，该升降板套设于该二轴杆上，并可沿该轴杆上、下移动，该弹簧分别套设于该轴杆上，每一弹簧的两端分别抵顶该升降板与该平台，该升降板对应该底座的一侧进一步设有一突伸的导通部，该导通部上设有若干检测针，该检测针的一端以导线连接该微控制器。如申请专利范围第5项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其进一步包含二压抵组，该压抵组固设于该平台上，且分别位于该底座以及该导通组的旁侧，该位于底座旁侧的其中一压抵组可进一步压住该上盖之框架处，该位于导通组旁侧的另一压抵组可将该导通组之升降板向下压抵。如申请专利范围第6项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其中，前述每一压抵组为一连杆机构，其包含一握把与一连动架，该握把与连动架间隔枢设在该平台上，且二者间以一传动杆相接，该连动架上进一步设有一软质的压抵块，当转动该二压抵组之握把时，可带动该连动架与压抵块，令该压抵块分别下压该上盖之框架与该导通组之升降板。如申请专利范围第7项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其中，前述静电排除装置系为于一板体表面盖覆一层导电布，并连接一接地线。如申请专利范围第8项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其中，前述上盖之绝缘层的材质为玻璃、聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethylmethacrylate，PMMA)或聚碳酸酯(polycarbonate，PC)。如申请专利范围第9项所述之电容式触控面板半成品检测治具，其中，前述上盖之框架的材质为酚醛树脂。 |
