| 发明名称 | 电阻温度系数测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种电阻温度系数测量方法，包括：用电流I对待测电阻R加热，记录加热过程中电阻阻值R随电流I的变化；利用电阻R和电流I查询一第二表格，确定一与电阻R有关的第一变量I<sup>2</sup>R；查找一第一表格，确定第一变量I<sup>2</sup>R与温度T的关系；以及查询一预定的数据库，确定电阻温度系数TCR。该预定数据库利用公式<img file="200710042392.8_ab_0.GIF" wi="334" he="54" />求出电阻温度系数TCR(T)。本发明只需使用一次热盘加热测得电阻的R～T曲线，此后就可利用电流快速加热同种结构的电阻(包括同一电阻)而获得R～I曲线，进而求出电阻的TCR，因此可省去每次热盘加热耗费的时间。 | ||
| 申请公布号 | CN101329295B | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
| 申请号 | CN200710042392.8 | 申请日期 | 2007.06.22 |
| 申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 周柯;范伟海;朱月芹 |
| 分类号 | G01N27/14(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 陈亮 |
| 主权项 | 一种电阻温度系数测量方法，其特征在于包括：用电流I对待测电阻R加热，记录加热过程中电阻阻值R随电流I的变化；利用电阻R和电流I查询一第二表格，确定一与电阻R有关的第一变量I2R；查找一第一表格，确定第一变量I2R与温度T的关系；以及查询一预定的数据库，确定电阻温度系数TCR，其中，通过测量与所述待测电阻同种结构的电阻的第一变量I2R与温度T的关系，来建立所述第一表格，并且在所述预定的数据库中，是利用公式： <mrow> <mi>TCR</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>T</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>dR</mi> <mi>dT</mi> </mfrac> <mo>*</mo> <mfrac> <mn>1</mn> <mi>R</mi> </mfrac> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>dR</mi> <mrow> <mi>d</mi> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>I</mi> <mn>2</mn> </msup> <mi>R</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </mfrac> <mo>*</mo> <mfrac> <mrow> <mi>d</mi> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>I</mi> <mn>2</mn> </msup> <mi>R</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mi>dT</mi> </mfrac> <mo>*</mo> <mfrac> <mn>1</mn> <mi>R</mi> </mfrac> </mrow>来计算TCR。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 | ||