发明名称 堆栈式封装结构及其制造方法
摘要 本发明关于一种堆栈式封装结构及其制造方法,该方法包括以下步骤:形成且固化一第一保护层以覆盖一第一晶圆的第一凸块;切割该第一晶圆,以形成数个第一晶粒;形成一第二保护层以覆盖一第二晶圆的第二凸块;利用一接合头通过该第一保护层吸附该第一晶粒,且将这些第一晶粒接合于该第二晶圆上;移除该接合头,且移除部分该第一保护层;切割该第二晶圆,以形成数个第二晶粒;形成一第三保护层于一基板上;及将该第一晶粒及该第二晶粒接合于该基板上。藉此,该第一保护层可以保护这些第一凸块,而且该第一保护层还具有增加厚度及平坦化的作用,以利后续第一晶粒的吸附。
申请公布号 CN102054787A 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN201010528021.2 申请日期 2010.10.21
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 陈仁川;张惠珊;赖宥丞
分类号 H01L21/98(2006.01)I;H01L25/065(2006.01)I;H01L23/00(2006.01)I;H01L23/28(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I 主分类号 H01L21/98(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆勍
主权项 一种堆栈式封装结构的制造方法,包括:(a)提供一第一晶圆,该第一晶圆包括一第一晶圆本体、数个第一连通柱及数个第一凸块,该第一晶圆本体包括一第一表面及一第二表面,这些第一连通柱突出于该第一表面,这些第一凸块邻接于该第二表面且电性连接这些第一连通柱;(b)形成且固化一第一保护层于这些第一凸块上,以覆盖这些第一凸块;(c)切割该第一晶圆,以形成数个第一晶粒;(d)提供一第二晶圆,该第二晶圆包括一第二晶圆本体及数个第二凸块,该第二晶圆本体包括一第三表面及一第四表面,这些第二凸块邻接于该第三表面,且该第四表面相对于该第三表面;(e)形成一第二保护层于这些第二凸块上,以覆盖这些第二凸块;(f)利用一接合头通过该第一保护层吸附这些第一晶粒,且将这些第一晶粒接合于该第二晶圆上,其中这些第一连通柱电性连接这些第二凸块;(g)移除该接合头,且移除部分该第一保护层以显露这些第一凸块;(h)切割该第二晶圆,以形成数个第二晶粒;(i)提供一基板,该基板具有一上表面;(j)形成一第三保护层于该基板上表面;及(k)将该第一晶粒及该第二晶粒接合于该基板上表面,其中这些第一凸块电性连接该基板上表面。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号