一种液晶盒厚测量方法及装置

摘要

本发明属电光功能材料制备领域，涉及一种液晶盒厚测量方法及装置。本发明方法不需要通过透射光谱的极大和极小所对应的波长值来确定液晶盒厚度，从而免去了寻找透射光谱极大和极小值的不确定性。本发明采用了汇聚光束，有利于提高信噪比。光锥在液晶盒上的截面可以很小，有利于测量盒厚的面分布。本发明采用测量装置测量液晶盒厚。所述装置包括：光源，聚光透镜，待测液晶盒，光纤耦合头，光谱测量仪。本发明采用的白光LED在可见光500-550nm范围内具有较平坦的发光谱，从而有利于简化测量系统，同时计算也很方便。

主权项

一种液晶盒厚测量方法，其特征在于，不需通过透射光谱的极大和极小所对应的波长值来确定液晶盒厚度，采用聚焦光束作为测量入射光，提高光通量及信噪比，控制透射液晶盒的光斑大小，采用光锥平均法计算测量液晶盒厚。