一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪

摘要

一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪，涉及集成电路芯片测设技术领域。在机壳内安装有PC工控机、集成电路测试板、集成电路适配器、CPLD模块，可调电压源；集成电路测试板包括CPU控制单元、USB接口单元、逻辑数据分析处理单元；集成电路适配器包括DIP插座、I/O输出切换单元；CPLD模块包括2×20位并行端口模块与适配器电压选择模块；CPLD模块通过地址与数据总线与集成电路测试板上的CPU控制单元连接、通过数据总线与集成电路适配器DIP插座连接。测试芯片时可进行快速的处理与传输，在上位机Windows界面下可编写测试矢量。本实用新型具有操作直观、简单，携带方便的特点。

主权项

一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪，包括机壳、面板，在机壳内安装有PC工控机(1)、集成电路测试板(2)、集成电路适配器(3)、CPLD模块(4)，可调电压源(5)；所述集成电路测试板(2)包括CPU控制单元(2.1)、USB接口单元(2.2)、逻辑数据分析处理单元(2.3)，集成电路适配器(3)包括DIP插座(3.1)、I/O输出切换单元(3.2)，其特征是：所述CPLD模块(4)包括2×20位并行端口模块(4.2)以及适配器电压选择模块(4.3)；所述CPLD模块(4)通过地址与数据总线(AD总线)与集成电路测试板(2)上的CPU控制单元(2.1)连接、通过数据总线与集成电路适配器DIP插座(3.1)连接。