发明名称 利用空间分解发光成像进行器件测定
摘要 使用发光成像来测量光伏器件的空间分解串联电阻的方法。该方法包括步骤:使用初始光照强度和端子电压来测量所述器件的区域的第一发光强度,使用变化的光照强度或者变化的端子电压来测量所述器件的所述区域的第二发光强度,以及测量其中至少一个参数相对第二校正发光强度的测量发生变化的所述区域处的第三发光强度,其中所述参数是端子电压和光照强度。内插或者外插第二发光强度和第三发光强度,以确定能够产生所述第一发光强度的端子电压和光照强度的值,其中使用所确定的值来估计器件的所述区域处的串联电阻。
申请公布号 CN102017116A 申请公布日期 2011.04.13
申请号 CN200980114220.4 申请日期 2009.04.23
申请人 BT成像股份有限公司 发明人 亨纳·坎普韦特;托尔斯滕·特鲁普克;于尔根·韦伯
分类号 H01L21/66(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 陈源;张天舒
主权项 一种对二极管器件的区域处的串联电阻进行估计的方法,该方法包括步骤:(a)使用初始光照强度和端子电压来测量所述器件的所述区域的第一发光强度A;(b)使用变化的光照强度或者变化的端子电压来测量所述区域的第二发光强度B1;(c)测量其中至少一个参数相对第二校正发光强度B1的测量发生变化的所述区域处的第三发光强度B2,其中所述参数是端子电压和光照强度;(d)内插或者外插第二发光强度B1和第三发光强度B2的光照强度值,以确定能够产生第一发光强度A的所述参数的值;以及(e)使用所确定的参数值来估计所述区域处的串联电阻。
地址 澳大利亚新南威尔士