| 发明名称 | 相对于旋转轴线的距离变化的检测 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于检测围绕轴线旋转的对象上的至少一个点相对于该轴线的距离变化的方法，该方法利用位于相对于所述轴线(41)静止的位置处且能够针对附接至所述对象的至少一个谐振电路(2)发射射频场的终端(1)。所述方法包括步骤：在所述终端侧测量和记录代表所述终端的振荡电路与所述至少一个谐振电路之间的耦合的参量的最大值；以及检测所述周期性最大值的变化。 | ||
| 申请公布号 | CN102016602A | 申请公布日期 | 2011.04.13 |
| 申请号 | CN200980115300.1 | 申请日期 | 2009.04.28 |
| 申请人 | 意法半导体(鲁塞)公司 | 发明人 | 路克·伍达克 |
| 分类号 | G01P3/44(2006.01)I;G01B7/02(2006.01)I;G01B7/24(2006.01)I | 主分类号 | G01P3/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 黄志华;钟锦舜 |
| 主权项 | 一种用于检测围绕轴线旋转的对象上的至少一个点相对于该轴线的距离变化的方法，该方法利用位于相对于该轴线(41)的固定位置处且能够针对附接至所述对象的至少一个谐振电路(L2，C2)发射射频场的终端(1)，包括步骤：在终端侧测量和记录代表所述终端的振荡电路(L1，C1)与所述至少一个谐振电路之间的耦合的参量的最大值；以及检测该周期性最大值的变化。 | ||
| 地址 | 法国鲁塞 | ||