发明名称 |
恶劣环境传感器系统和检测方法 |
摘要 |
提供一种用于测量恶劣环境(58、88)中物体的多个工作参数的系统(30、50)。该系统(30、50)包括第一能量收发器系统(31、52),配置成收发能量信号。该系统(30、50)还包括耦合到第一能量收发器系统(31、52)的收发的调制对象。该系统(30、50)还包括至少部分地设置在物体上且能够被第一能量收发器系统查询(31、52)的第二能量收发器系统(33、56)。第二能量收发器系统(33、56、80)还包括传感系统(82)。该系统还包括耦合到第一能量收发器系统(31、52)的处理器(36)。处理器(36)配置成基于收发的调制对象(54)来确定恶劣环境(58、88)中物体的多个工作参数。 |
申请公布号 |
CN101986126A |
申请公布日期 |
2011.03.16 |
申请号 |
CN201010246474.6 |
申请日期 |
2010.07.28 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
E·伯克坎;C·U·哈德维科 |
分类号 |
G01M19/00(2006.01)I;G01D21/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M19/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
朱海煜;徐予红 |
主权项 |
一种用于测量恶劣环境(58、88)中物体的多个工作参数的系统(30、50),所述系统(30、50)包括:配置成收发能量信号的第一能量收发器系统(31、52);耦合到所述第一收发器系统(31、52)的收发的调制对象(54);至少部分地设置在所述物体上且能够被所述第一收发器系统(31、52)查询的第二能量收发器系统(33、56、80),其中所述第二收发器系统(33、56、80)包括传感系统(82);以及耦合到所述第一收发器系统(31、52)的处理器(36),所述处理器(36、68)配置成基于所述收发的调制对象(54)来确定所述恶劣环境(58、88)中所述物体的所述多个工作参数。 |
地址 |
美国纽约州 |