| 发明名称 | 一种LED灯具的老化和温度试验方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种LED灯具的老化和温度试验方法，可用于LED灯具在高低温条件下进行老化。将LED灯具老化与高低温环境测试同时进行，整个过程分为：(a)将大功率LED灯具在高温a1摄氏度、电压U1伏下工作t1小时；(b)将大功率LED灯具在常温a2摄氏度、电压U2伏下工作t2小时；(c)将大功率LED灯具在低温a3摄氏度、电压U3伏下工作t3小时；(d)测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；过程(a)-(d)总耗时小于96小时。本发明的有益效果是：将老化与高低温试验同时进行，减少了时间，加快了生产速度。 | ||
| 申请公布号 | CN101968533A | 申请公布日期 | 2011.02.09 |
| 申请号 | CN201010278914.6 | 申请日期 | 2010.08.31 |
| 申请人 | 安徽师范大学 | 发明人 | 朱向冰;罗青青;叶为全;陈瑾;陈巧云;王竞;倪建;武汉 |
| 分类号 | G01R31/44(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种LED灯具的老化和温度试验方法，其特征是：将LED灯具老化与高低温环境测试同时进行，整个过程分为：(a)将大功率LED灯具在高温a1摄氏度、电压U1伏下工作t1小时；(b)将大功率LED灯具在常温a2摄氏度、电压U2伏下工作t2小时；(c)将大功率LED灯具在低温a3摄氏度、电压U3伏下工作t3小时；(d)测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；过程(a)‑(d)总耗时小于96小时。 | ||
| 地址 | 241000 安徽省芜湖市北京东路1号安师大光电中心 | ||