发明名称 光刻机扫描曝光系统及其扫描曝光方法
摘要 本发明提供一种光刻机扫描曝光系统,包括光源以及沿着光源出射光束形成的光路依次排列的柱面镜、变焦镜组、光学均匀器、耦合光组、掩模板、物镜、工件台,在所述变焦镜组和光学均匀器之间设置有光束旋转镜组,所述光束旋转镜组由若干组光学元件组成。扫描曝光时,先对曝光场区域扫描曝光后,将所述光束旋转镜组移入所述光路中,再次对曝光场区域扫描曝光,完成扫描曝光后移开所述光束旋转镜组,改善了曝光场Y方向的剂量均匀性,又能改善X方向的剂量均匀性,从而改善曝光剂量的系统性能,提高光刻线宽的均匀性。
申请公布号 CN101482705B 申请公布日期 2011.02.02
申请号 CN200910046485.7 申请日期 2009.02.23
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 张俊;罗鸣
分类号 G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种扫描曝光方法,包括光源以及沿着光源出射光束形成的光路依次排列的柱面镜、变焦镜组、光学均匀器、耦合光组、掩模板、物镜、工件台,在所述变焦镜组和光学均匀器之间设置有光束旋转镜组,其特征在于:光束旋转镜组被移出光路,先对曝光场区域扫描曝光后,将所述光束旋转镜组移入所述光源出射光束形成的光路中,再次对曝光场区域扫描曝光,完成扫描曝光后移开所述光束旋转镜组。
地址 201203 上海市张江高科技园区张东路1525号